Lo strumento di misura ottico ad alta precisione MarSurf CWM 100 offre una risoluzione sub-nanometrica nell’ambito di un sistema di misura 3D combinato costituito da un microscopio confocale e da un interferometro a luce bianca.
| CWM 100 | |
| Principio di misurazione | Interferometrico, interferometria a luce bianca e confocale Sorgente luminosa (CM e WLI): LED ad alta potenza, 505 nm |
| Campo di misura | Unità sensore traslabile in Z di 100 mm, a controllo CNC Tavola portapezzo traslabile in X e Y di 100 mm, a controllo CNC
Interferometro, interferometro a luce bianca: Campo di misura (interferometro a luce bianca): Oltre 4 mm (modalità standard), oltre 20 mm in modalità estesa
Microscopio confocale: Campo di misura (CM): fino a 10 mm (in base alla risoluzione in Z e all’obiettivo) |
